用于半導體可靠性的短脈沖強制性測試

發布時間：2011-3-8 11:53 發布者：嵌入式公社

開發IC讓它能工作是一回事；而讓它耐用就是另一回事了。隨著新技術出現新的可靠性問題，后者變得越來越難。在封裝之前，在晶圓上進行脈沖測試會有幫助。

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