4200-SCS 半導體特性分析系統

發布時間：2014-2-28 13:28 發布者：eechina

4200-SCS半導體特性分析系統是用于器件、材料和半導體工藝參數分析的完整解決方案。這種先進的參數分析儀具有無可比擬的測量靈敏度和精度，同時繼承了嵌入式Windows操作系統合及時利交互式測試環境，為半導體科研及產業用戶進行半導體器件特性分析提供了直觀而高級的功能。它是一套功能強大的單機解決方案。

4200-SCS半導體特性分析系統采用了模塊化、可配置、可升級的架構。這使得它能夠準確滿足當前的測量需求，也可以模塊擴展以滿足后續的需求。

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