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測試測量新聞列表

NI發布《2013數據采集技術趨勢展望 》

美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發布《2013數據采集技術趨勢展望》,概述了NI對于影響數據采集行業的關鍵技術和方法的研究結果。 《數據采集技術趨勢展望》介紹了以 ...
2013年03月20日 14:31   |  
數據采集  

泰克繼續擴大“黃金保障服務計劃”范圍 覆蓋BERTScopes、探頭和更多已安裝產品

泰克公司日前宣布,繼續擴大其成功的“黃金保障服務計劃”(Gold Care Service Plans)的覆蓋范圍。經過此次擴大后,現有客戶可為更廣泛的已安裝產品申請黃金保障服務,同時泰克廣受歡迎的探頭 ...
2013年03月05日 10:15   |  
泰克   黃金保障服務計劃  

NI中國推出在線商城

美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)于2013年2月25日在中國地區全面啟動其在線商城業務。 7天24小時,簡化購買流程 通過在線商城,客戶可以7天24小時隨時隨地瀏覽產品,在線 ...
2013年02月25日 14:38   |  
在線商城  
安捷倫發布高性能的實時頻譜分析儀

安捷倫發布高性能的實時頻譜分析儀

安捷倫科技公司(NYSE:A)日前宣布 PXA X 系列信號分析儀新增實時頻譜分析(RTSA)功能。安捷倫實時頻譜分析功能可以提供無與倫比的截獲概率(POI)、分析帶寬、靈敏度和頻率范圍,是系統開發 ...
2013年02月15日 17:34   |  
安捷倫   實時   頻譜分析儀  
安捷倫科技推出新一代 GC 和 GC/MS

安捷倫科技推出新一代 GC 和 GC/MS

  2013 年 2 月 1 日,北京——安捷倫科技公司(紐約證交所:A)宣布推出 Agilent 7890B 氣相色譜儀 (GC) 和 5977A 氣相色譜/質譜 (GC/MSD),這兩款新儀器將高性能、靈活性和可靠性提升至 ...
2013年02月02日 23:40   |  
安捷倫   氣相色譜儀  
安捷倫推出增強的PCI Express 3.0接收機特性測試解決方案

安捷倫推出增強的PCI Express 3.0接收機特性測試解決方案

J-BERT N4903B J-BERT N4903B 能夠處理 PCIe® 3.0在接收機特性測試過程中SKP 有序集的長度變化 安捷倫科技公司(NYSE:A)在 DesignCon上展示增強的PCI Express® 3.0 接收機特性 ...
2013年02月01日 22:10   |  
安捷倫   接收機   測試  

Silicon Labs的高級計量無線解決方案在DistribuTECH智能電網大會亮相

高性能模擬與混合信號IC領導廠商Silicon Laboratories (芯科實驗室有限公司, NASDAQ: SLAB)將在1月29-31日美國加利福尼亞州圣地亞哥舉行的DistribuTECH智能電網大會展示針對高級計量基礎設施 ...
2013年01月30日 21:08   |  
Silicon Labs   計量   無線  

熱烈慶祝東方集成榮獲泰克2012年度五項大獎

近日,全球領先的測試、測量和監測解決方案提供商美國泰克公司(Tektronix)在香格里拉臺北遠東國際大飯店隆重召開了“攜手共創新契機,團隊締造新紀元”年會。遍布全國各地的泰克合作伙伴們聚 ...
2013年01月16日 10:03   |  
泰克   測試測量   東方集成  
NI為2013全國虛擬儀器大賽參賽學生舉行實體培訓

NI為2013全國虛擬儀器大賽參賽學生舉行實體培訓

由中國儀器儀表學會、教育部高等學校儀器科學與技術教學指導委員會主辦,美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱NI)協辦的第二屆全國虛擬儀器大賽于2012年12月30日在首都師范大學美國國 ...
2013年01月14日 17:41   |  
虛擬儀器  

福祿克產品摘獲多項行業媒體大獎

作為世界電子測試工具的領導者,福祿克一直致力于為各個工業領域提供優質的測試測量解決方案,其產品廣泛應用于現代工業的多個領域,并以其值得信賴的品質贏得了全球用戶的共識。福祿克自1978年 ...
2013年01月05日 18:19   |  
測試測量   福祿克  
我國首套擁有完全自主產權的安全儀表系統誕生

我國首套擁有完全自主產權的安全儀表系統誕生

2012年12月18日,和利時集團“流程工業功能安全高峰論壇暨HiaGuard(SIS)發布會”在北京興基鉑爾曼酒店隆重舉行。此次會議集新品展示、技術研討于一體。和利時攜手行業專家、用戶、認證機構 ...
2012年12月19日 13:14   |  
安全儀表   自主產權   SIS  
NI參加2012 TD-LTE測試技術研討會

NI參加2012 TD-LTE測試技術研討會

美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱NI)于2012年11月23日參加了由工業和信息化部電信研究院和TD技術論壇聯合舉辦的2012 TD-LTE測試技術研討會。NI在此研討會上發表了題為"重新定義 ...
2012年12月10日 14:13   |  
TD-LTE   測試  

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