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測試測量新聞列表

可測量遙遠目標距離的新激光器

儀器儀表商情網:一款新型可攜帶空芯光纖激光器由包括堪薩斯州立大學的物理研究人員在內的一個團隊開發(fā),其可以幫助科學家測量與遙遠的目標之間的距離,確定在大氣中存在的某些氣體和從太空中發(fā) ...
2016年07月08日 11:56

靈活開放的PXI平臺造就更智能的系統測試

網絡設備的數量正在快速增長,而且它們越來越智能。在不遠的將來,隨著5G網絡的部署和普及,智能聯網設備的數量更將呈現爆炸式增長,物聯網時代即將到來。 從小到智能傳感器、大到智能汽車的 ...
2016年06月29日 10:39   |  
PXI   智能測試  
NI舉辦第十三屆“PXI 技術和應用論壇”,引領PXI發(fā)展新潮流

NI舉辦第十三屆“PXI 技術和應用論壇”,引領PXI發(fā)展新潮流

發(fā)布多項業(yè)界首創(chuàng)PXI新產品,打造更智能的系統測試 NI(美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱NI)近日在上海舉辦了第十三屆“PXI 技術和應用論壇” (PXI Technology & Application ...
2016年06月22日 11:47   |  
PXI   系統測試  
泰克迎來70周年,加速應用創(chuàng)新

泰克迎來70周年,加速應用創(chuàng)新

5月24日,泰克科技70周年品牌戰(zhàn)略媒體發(fā)布會和泰克2016年度創(chuàng)新論壇(TIF 2016)在京舉辦,為媒體、客戶闡釋泰克全新的品牌徽標和品牌戰(zhàn)略,強調應用創(chuàng)新的未來發(fā)展方向。在互聯網+、大數據時 ...
2016年05月25日 11:42   |  
泰克   Tektronix  
Oscium發(fā)布跨平臺雙帶頻譜分析儀,同時兼容蘋果iOS和安卓系統的新一代WiPry 5x

Oscium發(fā)布跨平臺雙帶頻譜分析儀,同時兼容蘋果iOS和安卓系統的新一代WiPry 5x

Oscium發(fā)布跨平臺雙帶頻譜分析儀 ——為專業(yè)無線測試和全球電纜工業(yè)而生 Oscium公司于2016年5月10日在美國俄克拉荷馬州的俄克拉荷馬城發(fā)布了同時兼容蘋果iOS和安卓系統的 ...
2016年05月13日 14:25
福祿克發(fā)布熱像解決方案中心

福祿克發(fā)布熱像解決方案中心

福祿克紅外熱像事業(yè)部正式發(fā)布熱像解決方案中心,該中心整合紅外熱像儀的實景應用體驗、360°產品中心、自助選型訂購、專屬客服支持,讓客戶足不出戶,即可體驗全過程,無需再為如何選型而煩惱 ...
2016年05月11日 15:36   |  
熱像   紅外  
R&S兩款新品:EMI測試和5G研發(fā)利器

R&S兩款新品:EMI測試和5G研發(fā)利器

近日,羅德和施瓦茨公司(Rohde & Schwarz,以下簡稱R&S)發(fā)布了兩款最新產品,EMI測試接收機ESW和矢量信號發(fā)生器SMW200A。前者用于各種民標和軍規(guī)的EMI測試,后者為新興的5G移動通信技術和802. ...
2016年04月29日 14:29   |  
EMI測試   SMW200A   5G通信   802.11ad   矢量信號發(fā)生器  
NI宣布將合作開發(fā)工業(yè)物聯網的首個TSN測試臺

NI宣布將合作開發(fā)工業(yè)物聯網的首個TSN測試臺

Rahman Jamal, NI: “開發(fā)該測試臺的目的是為了展示新以太網IEEE 802標準,也就是TSN對于制造業(yè)應用的價值。” 這些公司和IIC聯手致力于改進網絡基礎設施,以支持工業(yè)物聯網(IIoT)以及工業(yè)4.0 ...
2016年04月25日 15:51   |  
NI   測試臺  

NI發(fā)布2016自動化測試趨勢展望,智能化測試系統勢在必行

NI通過確定最前沿的商業(yè)和技術趨勢來幫助企業(yè)降低測試成本 NI(美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱NI)近日發(fā)布了《2016自動化測試趨勢展望》。 這份年度測試和測量報告綜合概括了 ...
2016年03月16日 14:20   |  
自動化測試  
首屆泛華創(chuàng)客選拔計劃圓滿落幕

首屆泛華創(chuàng)客選拔計劃圓滿落幕

1月28日,首屆泛華創(chuàng)客選拔計劃在歷時6個小時的選拔后最終落下帷幕,“跨界測控平臺項目”最終拔得頭籌。 本屆創(chuàng)客選拔計劃從初選到決賽共歷時2個月,超過20名員工、共6個項目組參與。比賽由 ...
2016年02月02日 14:36   |  
泛華   創(chuàng)客  

上海微技術工研院牽手美國國家儀器,引領國內射頻及微波芯片測試技術研發(fā)

上海微技術工業(yè)研究院(SITRI)作為致力于“超越摩爾”半導體技術及物聯網應用研發(fā)和產業(yè)化的協同創(chuàng)新中心,宣布與美國國家儀器公司(National Instruments ,簡稱NI)簽署合作,聯合成立“射頻 ...
2016年01月21日 11:14   |  
RFIC   MMIC   射頻   微波芯片  
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2015年12月15日 14:03   |  
電能質量   記錄儀  

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