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4200-SCS半導(dǎo)體特征化系統(tǒng)的Keithley 互動(dòng)測(cè)試環(huán)境（KITE）軟件，包含了兩種測(cè)試模塊：互動(dòng)測(cè)試模塊（ITM，Interactive TestModule）和用戶測(cè)試模塊（UTM，User Test Modul）。用戶可以根據(jù)他們的偏愛(ài)和所要測(cè)試的類型來(lái)選擇相應(yīng)類型的模塊。ITM提供了一種建立I-V測(cè)試的非常方便的方法，而所有要做的只是簡(jiǎn)單的鼠標(biāo)移動(dòng)和點(diǎn)擊。ITM還允許進(jìn)行實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)繪圖（即邊測(cè)試邊繪圖）。另一方面，使用了UTM，用戶可以用C語(yǔ)言和所提供的儀表庫(kù)來(lái)編寫測(cè)試程序。UTM被設(shè)計(jì)成在對(duì)4200-SCS和其他外部?jī)x器進(jìn)行控制時(shí)可以提供最大的靈活性，因而用戶幾乎可以創(chuàng)建任何所需的測(cè)試。 下載： 
4200_Plotting_TN-CN.pdf
(624.7 KB)
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