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The On-Chip Calibration Benefits of New Simultaneous SAR Analog-to-Digital Converters 作者：Lluis Beltran Gil，ADI產品應用工程師 摘要 本文評估在電阻模數轉換器(ADC)前面的外部電阻的影響。這些系列的同步采樣ADC包括一個高輸入阻抗電阻可編程增益放大器(PGA)，用于驅動ADC和縮放輸入信號，允許直接連接傳感器。但是，有幾個原因導致在設計期間，我們最終會在模擬輸入前面增加外部電阻。以下部分從理論上解釋預期的增益誤差，該誤差與電阻大小呈函數關系，且介紹最小化這些誤差的幾種方式。本文還研究電阻公差和不同的校準選項對ADC輸入阻抗的影響。除理論研究之外，還使用試驗臺測量和比較幾種設備，以證明片內增益校準功能能實現出色精度。增益校準功能使廣泛前端電阻值的系統誤差低于0.05%，無需執行任何校準例程，只需對每個通道的單個寄存器執行寫操作即可。 簡介 傳統上，同步采樣逐次逼近寄存器(SAR) ADC被視為是對主要由能源客戶提出的提供保護繼電器應用的需求的響應。在輸配電網絡中，保護繼電器監測電網，以盡快對任何故障情況（過壓或過流）作出反應，避免造成嚴重損壞。 為了監測傳輸的電源，需要同步測量電流和電壓。電流是通過變壓器(CT)來測量的，在通過變壓器后，電流減小，提供隔離，并通過負載電阻轉換為電壓。電壓是通過電阻網絡來測量的，這是一個分壓器，它將電壓從kV范圍降至V范圍。ADI公司提供同步采樣ADC來監測電壓和電流，以簡化雙器件、四器件或八器件的功率計算。圖1所示的信號鏈原理圖通常用于測量單相，多相電力系統的功率需要使用通道數量更高的數據采集系統(DAS)，即8個通道對應3個相位和1個中性相位。 下載全文： 
ADI 技術文章 (約6000字17圖２表) －新推出的同步SAR模數轉換器的片內校準優勢 (24112).pdf
(1.21 MB)
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