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納米測試技術(shù)的新挑戰(zhàn)

發(fā)布時間:2011-3-8 11:56    發(fā)布者:嵌入式公社
關(guān)鍵詞: 測試技術(shù) , 納米
納米技術(shù)是一個重要的新研究領(lǐng)域,它對于電子、材料、生物、替代能源和很多其他應(yīng)用都將產(chǎn)生巨大的推動作用。

要想掌握新的組件材料如納米晶體、納米管、納米線和納米光線在未來電子器件中的行為特征,需要能夠在很寬范圍內(nèi)進行電阻和電導(dǎo)率特
征分析的測試儀器。這常常需要測量很小的電流電壓納米技術(shù)研究發(fā)展十分迅速。

實際上,很多科學(xué)家和工程技術(shù)人員發(fā)現(xiàn)他們現(xiàn)有的測量工具只是缺乏對與納米技術(shù)材料研究相關(guān)的低值信號進行有效特征分析所需的靈敏度和分辨率。同時,其他一些人則忙于跟蹤新技術(shù)帶來的測量需求的快速變化。

能夠在納米級進行精確而可重復(fù)的測量對于希望開發(fā)下一代材料的工程技術(shù)人員而言是至關(guān)重要的。

下載: 納米測試技術(shù)的新挑戰(zhàn).pdf (368.9 KB)

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zhaokuiman 發(fā)表于 2011-4-8 14:37:36
ding
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