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集成ARM的混合信號如何實現智能傳感器

發布時間:2015-11-11 14:23    發布者:designapp
  摘要:本文通過介紹幾種不同的現場儀器儀表的缺點與不足,分析了ARM M3/M4處理器內核與適當的模擬元件集成后,如何實現現場儀器儀表應用的系統級優化。
  一般而言,新一代嵌入式系統的關鍵指標包括: 更高的性能、更低的成本、更低的功耗、增加有線和無線連接能力、更小的尺寸以及更高的整體系統效率。 實現上述任意單一目標都不是件容易的事情;因此,涵蓋多個指標的解決方案必須依靠多個元件的集成。
  采用仔細選擇的模擬元件、32位ARM處理器內核以及合適的數字外設組合,能以分立式解決方案所無法實現的方式達成這些目標。 影響最大的集成元件有:模擬放大器ADCDAC、基準電壓源、溫度傳感器、無線收發器和信號處理加速器。
  有很多應用領域都具有潛在優勢,包括:工業現場儀器儀表應用/精密檢測、電機控制、太陽能逆變器等。
  現場儀器儀表: 過程控制中的低功耗傳感器
  現場儀器儀表是過程控制系統的一部分。后者廣泛用于各種領域,比如石油和天然氣處理、食品處理、汽車以及半導體制造等。 它們常常部署在惡劣環境下,比如需要遠程控制、具有極端溫度和安全風險(如爆炸危險)等。 在這些困難條件下,器件必須能夠可靠、準確地測量過程變量,如溫度、壓力和流速。 由于要接觸這些設備具有一定的難度,因此未來的趨勢是將它們設計得更為智能化,從而更高效地進行通信、自我校準以及更好地診斷問題。 在網絡邊緣中引入智能是很多應用共有的趨勢,助推新一代嵌入式系統的設計目標向更激進的方向發展。 就現場儀器儀表而言,難點在于增加新功能而不增加功耗、尺寸并且不影響測量性能。 在現場儀器儀表中加入新功能的特定例子有:HART調制解調器的通信功能、電子電路診斷功能以及尺寸更大、分辨率更高的顯示器。 此外,若要為現場儀器儀表優化模擬微控制器,則必須首先了解行業趨勢,然后還要深入理解系統級要求。 擁有系統知識,便可選擇正確的集成模塊。
  對于單芯片數據采集子系統來說,從電路級架構角度出發,可以獲得大量的系統級優勢。 這便為實現激進的功耗、尺寸和性能目標提供了可能性。 實現高效而靈活的現場儀器儀表數據采集方案所需的IP有: 模擬多路復用、儀表放大器、Σ-Δ型ADC、基準電壓源、可編程電流源、ARM M3微控制器內核、Flash、定時器、看門狗和數字串行接口。 框圖顯示針對現場儀器儀表優化的IP,經過集成后,它們可良好地協調工作,從而提供能效與尺寸方面的優勢,并允許加入額外功能。
  大部分現場儀器儀表設備通過雙線式模擬環路通信,采用4 mA-20 mA電流信號。 這類環路使用廣泛的原因是它們成本低、穩定性高,并且具有噪聲抗擾度,不會產生壓降。 另外,4 mA-20 mA環路還可用來為現場儀器儀表供電。 這種受限型電源使得儀器儀表對電源十分敏感,即吸取的電流必須低于環路源電流能力的下限4 mA。 具體而言,電流預算為3.5 mA。 現場儀器儀表中全部電子器件的總消耗電流不可超過該值。 對于數據采集元件而言——包括信號放大、模數轉換、數字信號處理、診斷、校準和控制——此部分預算需小于2 mA。 從系統角度來理解這個預算,便能針對應用設計并優化集成式模擬微控制器。
  模擬微控制器中的所有主要IP模塊都需針對功耗進行優化,滿足2 mA以內的功耗目標。 實現這一目標的關鍵器件有:儀表放大器、ADC和微控制器子系統。 單個ADC通道的功耗目標為150 uA以內。 對微控制器子系統進行功耗優化時,應當包括對低功耗工作的電路設計優化、對調節時鐘頻率以控制功耗的能力進行優化,以及對某段時間內不使用的外設的時鐘關斷進行優化。 這些優化可以實現800 uA以內的功耗,并讓內核工作在能夠處理全部所需功能的速率下,比如2 MHz。
                               
                  除了功耗,選擇正確的ADC并進行適當配置對于性能和尺寸而言同樣十分重要。 系統性能是ADC效果最直觀的反映。 ADC精度越高,過程變量的測量結果就越精確。 這最終會提升控制能力和性能。 對于現場儀器儀表而言,16位分辨率是較為常見的要求,Σ-Δ轉換器便能很好地滿足這種精度要求。


  在現場儀器儀表設計中,經常會出現兩個或更多傳感器。 這類應用實例有:溫度測量和壓力測量。 這對ADC、儀表放大器和多路復用芯片設計的配置都會有影響。 集成兩個ADC,就能測量兩個過程變量。 采用多路復用可增加輸入數量。 對于溫度測量而言,可以將一個ADC與熱電偶對接,另一個ADC與電阻溫度檢測器(RTD)對接。 熱電偶的電壓輸出與兩個端點之間的溫度差成正比, 其一端參考目標(比如極高溫金屬),另一端參考電子元件的溫度。 第二個ADC用來測量RTD,后者為電子元件提供絕對參考溫度。 利用參考溫度及其與目標之間的差異,目標溫度便能由ARM M3微控制器內核精確計算得出。
  對于壓力測量而言,主ADC測量阻性電橋壓力傳感器。 第二個ADC測量溫度,以便用于溫度補償以及提供整個溫度范圍內的更佳精度。 靈活的多路復用允許測量靜態壓力補償值。
  需要提供額外功能并保持尺寸與功耗預算不變的一個例子便是HART(可尋址遠程傳感器高速通道)調制解調器功能。 HART調制解調器采用數字雙向通信標準,它在標準4 mA至20 mA模擬環路上調制一個1 mA峰峰值FSK信號。 若要加入這個功能,就必須在總功耗預算中留出裕量。 前文所討論的優化在這種情況下適用。 另外,還需考慮微控制器子系統。 微控制器內核需實現該性能,同時保持能效以控制HART調制解調器并驅動環路供電型DAC,它還需執行處理測量數據、診斷和校準等任務。
  選擇正確的元件實現芯片級集成和優化固然重要,但開發高效率集成系統還需要掌握目標市場要求與趨勢等豐富知識。 系統級目標——比如增加功能而不增加功耗水平與尺寸——要求芯片供應商與最終系統開發商之間展開密切合作。 為了便于展開這種合作,半導體供應商需對電路板級要求具有充分的理解,例如:外形尺寸、溫度范圍、制造工藝、功耗、成本以及信號鏈中的補充器件。
                               
               
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