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JEDEC或放寬HBM4高度限制, 在現有的鍵合技術中實現16層堆疊

發布時間:2024-3-14 15:04    發布者:eechina
關鍵詞: JEDEC , HBM4
來源:EXPreview

近年來,人工智能(AI)、高性能計算(HPC)和PC一直在推動高性能DRAM產品的研發,市場對HBM類DRAM的需求也在迅速增長。從去年下半年起,就不斷傳出有關下一代HBM4的消息,三星、SK海力士和美光三家主要存儲器制造商都加大了這方面的投入,以加快研發的進度。

據ZDNet報道,JEDEC固態存儲協會可能會放寬HBM4在高度方面的要求,也就是最高的720微米的限制。為了降低三星、SK海力士和美光的制造難度,傳聞JEDEC可能將12層及16層堆疊的HBM4高度放寬至775微米,這意味著存儲器制造商可以在現有的鍵合技術中實現16層堆疊,無需轉向新的混合鍵合技術。

目前無論是三星的TC NCF技術還是SK海力士的MR-RUF技術,都是使用凸塊實現層與層之間的連接。上個月三星宣布,已開發出業界首款HBM3E 12H DRAM,從過去的8層堆疊提高至12層堆疊,而且通過對TC NCF材料的優化,已經將間隙減低至7微米。不過要實現16層堆疊,厚度必然會繼續增加,現有的技術在原限定高度下很難實現這樣的操作。

混合鍵合技術不需要凸塊,通過板載芯片和晶圓直接鍵合,讓層與層之間更加緊密,以減少封裝厚度。不過混合鍵合技術尚未成熟,而且相比現有的鍵合技術過于昂貴,因此現階段存儲器制造商還不太愿意采用。

隨著JEDEC同意放寬HBM4的高度限制要求,一方面為混合鍵合技術爭取到了更多的開發時間,另一方面也加快了HBM4的商業化進程。
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