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性能指標是MCU芯片測試指標中的核心，包括處理器的性能、存儲器的容量和讀寫速度以及外設性能等。芯片測試對自動化測試的要求很高，ATECLOUD-IC不僅解決了傳統測試方法的問題，而且也可以滿足芯片測試的高要求，高效地完成MCU芯片性能指標的測試。 MCU芯片測試的痛點 1.手動搭建測試環境，測試繁瑣 2.手動記錄測試數據，記錄數據量大，容易出錯 3.復雜測試業務邏輯，無法手動完成測試 4.分散自動化測試，數據分散，管理不統一 5.從研發到中試到生產，數據關聯分析沒有專業工具 6.長時間測試，工作量大 
ATECLOUD-IC芯片自動化測試系統 1. 兼容各大品牌，內含多種測試項目，無代碼編程模式，根據性能指標需要測試的項目及參數，快速搭建方案，一鍵運行測試。 2. 支持批量測試，大大提升測試效率。 3. 芯片性能指標測試的數據會自動存儲，無需手動記錄，避免手動記錄數據時出錯。 4. 測試過程實時觀測，檢驗產品是否合格。 5. 測試數據可以以圖表形式展示，助力對MCU芯片性能指標的分析。 6. 可以自定義數據報告，支持一鍵生成導出。 7. 已完成的歷史測試以列表形式展現，方便查看以往的測試信息。 ATECLOUD-IC是天宇微納研發的一款芯片自動化測試系統，在MCU芯片測試過程支持批量測試，極大提高了測試效率，并且會自動管理、匯總采集數據，以圖標形式展現數據，幫助進行智能數據分析。 |
