日置阻抗分析儀IM3570規格及參數

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　　LCR測試儀和阻抗分析儀合二為一的IM3570通過掃頻測量和峰值比較器功能對共振狀態進行合格判定，并在LCR模式想能通過1kHz或120Hz的LCR測量進行檢查。掃頻測量和LCR測量一臺儀器全部實現。
　　● 1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
　　● LCR模式下最快1.5ms(1kHz)，0.5ms(100kHz)的高速測量
　　● 基本精度±0.08%的高精度測量
　　● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量
　　● 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
　　● 可以用于無線充電評價系統TS2400
　　● 搭配4ch掃描模塊機架，更能實現2MHz阻抗的4ch測量
　　基本參數

　　以上就是日置阻抗分析儀IM3570的規格參數，如您使用中還有其他問題，歡迎登錄西安安泰測試https://www.agitek.cn