電流探頭溫度影響機(jī)理分析

PRBTEK

       根據(jù)電流探頭的內(nèi)部結(jié)構(gòu)組成，溫度對(duì)鐵氧體導(dǎo)磁率和金屬殼體形變的影響非常小［13］，可以忽略。因此，溫度對(duì)電流探頭傳輸阻抗的影響主要由繞線電阻、分布電感與電容組成。

       繞線電阻的影響線圈由銅絲繞制而成，銅絲形狀尺寸（主要為長(zhǎng)度變化）發(fā)生變化必然會(huì)引起線圈阻抗的變化。由導(dǎo)體電阻計(jì)算公式可得：

       式中：p為導(dǎo)體電阻率，銅絲為1.75x10-8Ω; l為導(dǎo)線長(zhǎng)度（m）;S為導(dǎo)體橫截面積（m2）.

       以上內(nèi)容由普科科技PRBTEK分享，公司致力于示波器測(cè)試附件配件研發(fā)、生產(chǎn)、銷售，涵蓋產(chǎn)品包含電流探頭、差分探頭、高壓探頭、無(wú)源探頭、電源紋波探頭、柔性電流探頭、近場(chǎng)探頭、邏輯探頭、功率探頭和光探頭等，滿足客戶多樣化測(cè)試需求，庫(kù)存充足，價(jià)格合理。詳情訪問(wèn)官網(wǎng)www.prbtek.com