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LIV 即光電特性，是驗證激光二極管、探測器性能的普遍的方法。在晶圓、切割、管芯、封裝后老化測試過程中，為降低生產成本同時增加產品吞吐量，快速可靠的LIV測試系統對制造光電器件的工廠是很重要的。 根據Laser Diode工作原理，通常技術人員要用到電流源來驅動 LD 工作，產生光的同時用光功率計測量光功率來完成LIV特性測試。在不同的測試階段例如Chip 測試，技術人員將電流源、電壓表、電流表、開關、同步觸發單元、光功率計集成起來才能完成測試，同時老化測試前后需要將每個管芯或模塊的測試數據進行比對，大大增加了系統的復雜程度，影響了測試精度和數據可靠性。 LIV測試系統采用國產S型數字源表為核心，結合測試軟件以及第三方設備積分球探測器完成LD的LIV測試。系統結構簡單、精度高、可靠性好、速度快，提高生產效率的同時也增加了測試精度和可靠性，并且降低了測試成本。 
需要測試的參數： 驅動電流I,正向壓降Vf 光功率Po 閾值電流Ith 拐點Ikink,背光電流Idark
需要儀器列表： S型國產源表 積分球 可變光源 軟件 高校相關專業 微電子，材料專業 |
