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美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）近日發(fā)布了《2011自動化測試技術(shù)展望》，就影響測試測量的技術(shù)與方法發(fā)表了研究結(jié)果。該報告所闡述的發(fā)展趨勢覆蓋了消費電子、汽車、半導(dǎo)體、航空航天、醫(yī)療設(shè)備和通信等眾多產(chǎn)業(yè)，幫助工程師和企業(yè)管理人員利用最新策略和最佳實踐案例，優(yōu)化測試組織架構(gòu)。 《2011自動化測試技術(shù)展望》以學(xué)術(shù)和工業(yè)研究、網(wǎng)上論壇、問卷調(diào)查、商業(yè)咨詢、客戶反饋等多種形式廣泛進行調(diào)查，提出了下一代測試測量行業(yè)的發(fā)展趨勢，以應(yīng)對該行業(yè)所存在的商業(yè)與技術(shù)挑戰(zhàn)。報告從四個方面進行了闡述： -- 測試資源整合：將設(shè)計驗證和生產(chǎn)測試的資源整合在一起，需要重視人力資源、流程控制和技術(shù)等方面的革新。 -- 系統(tǒng)軟件棧：一個高度集成的軟件架構(gòu)可以提升測試性能，并縮短開發(fā)時間時間。 -- 異質(zhì)計算：未來的測試系統(tǒng)將會需要不同類型的運算節(jié)點，來滿足愈加嚴格的數(shù)據(jù)分析與處理要求。 --IP to the Pin：在設(shè)計與測試階段共享FPGA IP可顯著縮短對設(shè)計進行驗證測試的時間，提高產(chǎn)品測試的效率和故障檢測覆蓋率。 閱讀2011自動化測試技術(shù)展望，讀者可訪問http://zone.ni.com/devzone/cda/tut/p/id/12694。 |
