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泰克公司日前宣布推出TLA6000系列邏輯分析儀，旨在為主流嵌入式系統設計者提供強大的高端調試與分析能力。TLA6000系列以更低的價位提供了以前僅在高性能TLA7000系列上才擁有的性能和功能，相對便攜式TLA5000系列型號提供了更多的能力。 更高的信號傳輸速率和板卡密度通常會導致信號完整性問題，例如串擾、地面反跳和鳴震，它們通常表現為數字系統的功能故障。TLA6000系列為工程師提供了一套完整的工具，可幫他們快速發現、隔離和解決這些難以隔離的問題。 
強大性能滿足苛刻要求的應用 TLA6000系列旨在滿足嵌入式系統工程師對于更高性能的需求，該系列包括68、102和136數字通道配置，所有通道上都帶有125 ps高速定時分析能力，可實現高達450 MHz的狀態采集能力和128 Mb的存儲深度。這一性能水平代表了重大的性價比突破。 TLA6000系列通過多項先進的特性提高了工程設計效率，例如，iCaptureTM技術通過一只邏輯分析儀探頭同時提供數字采集和模擬采集，從而無須進行兩次采集。毛刺觸發和存儲允許用戶觸發并顯示觀測到的信號完整性錯誤，而iViewTM顯示可在同一個顯示屏上提供邏輯分析儀和示波器數據的時間相關的有用視圖。簡單且直觀的儀器設置可幫助在繁忙的實驗室環境中加快設計過程，從而節約時間。 TLA6000系列適用于多種調試和分析應用領域，包括信號完整性分析、FPGA調試和驗證、MIPI協議分析、存儲系統驗證以及嵌入式軟件集成與調試。 TLA6000系列現已在全球上市。 |
