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Xilinx FPGA入門連載38:SRAM讀寫測試之設(shè)計(jì)概述

發(fā)布時(shí)間:2015-12-18 12:26    發(fā)布者:rousong1989
Xilinx FPGA入門連載40SRAM讀寫測試之設(shè)計(jì)概述
特權(quán)同學(xué),版權(quán)所有
配套例程和更多資料下載鏈接:
http://pan.baidu.com/s/1jGjAhEm
1 功能簡介
         如圖所示,本實(shí)例每秒鐘定時(shí)進(jìn)行一個(gè)SRAM地址的讀和寫操作。讀寫數(shù)據(jù)比對后,通過D2 LED狀態(tài)進(jìn)行指示。與此同時(shí),也可以通過chipscope pro在ISE中查看當(dāng)前操作的SRAM讀寫時(shí)序。
2 模塊劃分
         該實(shí)例的工程模塊劃分層次如圖所示。
●  Sp6.v是頂層模塊,主要完成各個(gè)子模塊例化、相互接口的互聯(lián)。
●  Pll_controller.v模塊是IP核,例化PLL功能完成時(shí)鐘的倍頻、分頻管理。
●  Test_timing.v模塊產(chǎn)生SRAM的遍歷讀寫請求,比對寫入和讀出的SRAM值是否一致,結(jié)果賦值給LED指示燈。
●  Chipscope_debug.cdc模塊引出設(shè)計(jì)模塊內(nèi)部信號(hào),在chipscope下可以在線觀察SRAM的讀寫時(shí)序。

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