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低電壓和低電阻測(cè)量常常是針對(duì)具有低的源阻抗的器件和材料進(jìn)行的。本e手冊(cè)討論了低壓測(cè)量中存在的若干潛在的誤差源，如何盡可能降低其對(duì)測(cè)量精度的影響，并探討了低電阻測(cè)量的潛在誤差源，包括引線(xiàn)電阻、熱電EMF、非歐姆接觸、器件發(fā)熱、干電路測(cè)試和電感器件測(cè)量。 在測(cè)量較高電壓的時(shí)候通常被忽略的偏置電壓和噪聲源，卻會(huì)在低電壓測(cè)量中造成顯著的誤差。這些因素會(huì)對(duì)低壓測(cè)量精度產(chǎn)生顯著的影響。 下載： 
2013122473.pdf
(2.79 MB)
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