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LXI為實現更高智能儀器開路(英文)

發布時間:2014-2-26 15:44    發布者:eechina
關鍵詞: LXI , 智能儀器
The trend toward more intelligent instruments has become increasingly evident as vendors of test and measurement equipment take advantage of increased processing power to expand the features and functions their products provide. These include advanced data analysis and reduction, more sophisticated sequencing and control, and built-in functions targeted at specific T&M applications. This paper details how the capabilities included in the LXI (LAN eXtensions for Instrumentation) Standard
enhance and accelerate the trend toward smarter instruments. It examines how the new generation of LXI smart instruments will lower the total cost of test while improving performance, increasing flexibility, and enhancing ease of use.

下載: 201401123.pdf (103.17 KB)

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