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隨著技術(shù)進步以摩爾定律的速度*1快速發(fā)展,測試測量任務(wù)變得越來越困難。高性能應(yīng)用,特別是要求芯片檢定、串行數(shù)據(jù)一致性測試、光學調(diào)制分析、雙倍數(shù)據(jù)速率(DDR)存儲器和寬帶RF檢驗的應(yīng)用,需要以前不能實現(xiàn)的測試測量功能,包括把杰出的性能(帶寬和采樣率)和靈活性(端接電壓和靈敏度)結(jié)合起來,而又不會給信號保真度帶來負面影響。 下載:
201401505.pdf
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