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電子控制與電子功率轉(zhuǎn)換在各行業(yè)(如發(fā)電、工業(yè)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)與控制、運(yùn)輸及IT) 發(fā)展迅速，正推動(dòng)著功率半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)與測(cè)試的增長(zhǎng)。為了證明技術(shù)改進(jìn)，必須對(duì)新器件與現(xiàn)有器件能力進(jìn)行對(duì)比。非硅半導(dǎo)體材料的使用需要采用新工藝，而且，為了可持續(xù)發(fā)展，這些新工藝必須能夠交付已知的結(jié)果，并具有高產(chǎn)量。隨著新器件設(shè)計(jì)的發(fā)展，必須對(duì)諸多器件進(jìn)行更長(zhǎng)周期的可靠性測(cè)試。因此，測(cè)試工程師必須找到具有高精度、可擴(kuò)展和高費(fèi)效比的測(cè)試設(shè)備。 功率模塊設(shè)計(jì)工程師——分布式功率半導(dǎo)體器件用戶——正致力于半導(dǎo)體器件測(cè)試工作。為了開發(fā)DC-DC轉(zhuǎn)換器、逆變器、LED控制器、電池管理芯片以及諸多其他器件，他們?cè)谠O(shè)計(jì)中采用分立半導(dǎo)體器件。為了實(shí)現(xiàn)更高的電源效率，他們必須對(duì)來(lái)自供應(yīng)商的器件進(jìn)行質(zhì)量檢驗(yàn)，確保其符合應(yīng)用環(huán)境的要求，并預(yù)測(cè)器件對(duì)功率模塊效率的影響，最后驗(yàn)證最終產(chǎn)品的性能。 吉時(shí)利源測(cè)量單元（SMU）儀器，可為器件測(cè)試工程師及功率模塊設(shè)計(jì)工程師提供測(cè)量所需的工具。不論他們對(duì)曲線跟蹤儀、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀或示波器是否熟悉，都能簡(jiǎn)單而迅速地得到精確的結(jié)果。本應(yīng)用筆記介紹了某些最常見的測(cè)試、相關(guān)挑戰(zhàn)以及吉時(shí)利源測(cè)量單元（SMU）儀器怎樣簡(jiǎn)化測(cè)量流程，特別是與吉時(shí)利參數(shù)曲線跟蹤儀配置進(jìn)行集成時(shí)。 下載： 
HiPowerDeviceTest SMUInsrmts_AppNote - CN.pdf
(1.07 MB)
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