ATECLOUD開關(guān)電源測試系統(tǒng)如何測試電源下降時(shí)間？

namisoft

　　上期我們分享了開關(guān)電源上升時(shí)間的測試方法，這期納米軟件將科普下降時(shí)間如何測試。開關(guān)電源下降時(shí)間是指電壓從90%下降到10%的時(shí)間。下降時(shí)間是開關(guān)電源的重要特性參數(shù)，對于電路穩(wěn)定以及信號(hào)傳輸?shù)臏?zhǔn)確性至關(guān)重要，同時(shí)也對電路設(shè)計(jì)和調(diào)試具有重要意義。

　　電源下降時(shí)間測試方法是什么？
　　測試目的：測試S.M.P.S. POWER ON時(shí)，各組輸出從90% ~ 10% POINT的下降時(shí)間，通常情況下是 ≥5mS。
　　測試設(shè)備：交流電源、電子負(fù)載、示波器
　　測試條件：

　　測試方法：
　　1.依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE，F(xiàn)REQUENCY AND LOAD
　　2.SCOPE的CH1接Vo，并設(shè)為 TRIGGER SOURCE，LEVEL設(shè)定在Vo的60% ~ 80%較為妥當(dāng)，TRIGGER SLOPE設(shè)定在 "-"，TIME/DIV和VOLTS/DIV則視輸出電壓情況而定。
　　3.用CURSOR中"TIME"測待測品各組輸出從電壓90%至10%的下降時(shí)間
　　注意事項(xiàng)：測試前先將待測品熱機(jī)，等輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測試。

　　ATECLOUD如何對開關(guān)電源下降時(shí)間進(jìn)行測試？
　　1. 連接設(shè)備
　　通過LAN通訊總線、測試夾具以及其它線纜，連接測試設(shè)備、電源模塊以及邊緣計(jì)算設(shè)備ATEBOX。
　　2. 登錄ATECLOUD平臺(tái)
　　3. 建立測試方案
　　登錄平臺(tái)后，選擇相應(yīng)的測試儀器型號(hào)，拖拽指令搭建測試項(xiàng)目并創(chuàng)建測試方案。
　　4. 開始測試
　　測試方案搭建完成后，便可在ATECLOUD平臺(tái)的運(yùn)行界面，一鍵運(yùn)行方案，開始測試。
　　5. 數(shù)據(jù)分析
　　測試完成后，平臺(tái)會(huì)自動(dòng)匯總、管理測試數(shù)據(jù)，并且會(huì)多方位、多層級(jí)分析數(shù)據(jù)。用戶可通過該平臺(tái)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。
　　6. 查看導(dǎo)出數(shù)據(jù)報(bào)告
　　測試數(shù)據(jù)也可以以數(shù)據(jù)報(bào)告的形式生成導(dǎo)出，支持word、excel格式。該數(shù)據(jù)報(bào)告模板眾多，也可以自定義，選擇需要的模板和數(shù)據(jù)，一鍵導(dǎo)出，即可得到測試的具體數(shù)據(jù)報(bào)告文檔。
      ATECLOUD是一種先進(jìn)的開關(guān)電源測試系統(tǒng)，支持批量測試，內(nèi)含強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，滿足用戶測試需求。更多詳情可了解：https://www.namisoft.com/Atecloud.html