新微觀測量設備：：光學3D輪廓儀與共聚焦顯微成像的結合應用

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發布時間: 2025-6-26 15:57

傳統單一測量設備要么精度不足，要么無法兼顧復雜結構。而SuperView WT3000白光干涉儀+共聚焦顯微鏡雙模式融合： 1、白光干涉模式利用白光干涉原理，實現從超光滑到粗糙、鏡面到全透明或黑色材質等所有類型樣件表面 ...

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