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電子工程網»論壇 › 技術區 › 測試測量 › 同惠TH2830系列LCR測試儀高頻1MHz測試與自動校準功能

同惠TH2830系列LCR測試儀高頻1MHz測試與自動校準功能

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agitek2008 發布時間: 2025-6-16 15:43 正文摘要: 一、引言：高頻測試需求與TH2830的技術定位隨著5G通信、新能源汽車及半導體技術的快速發展，電子元件的工作頻率不斷提升，高頻參數（如1MHz及以上）的精確測量成為研發與生產環節的核心需求。同惠TH2830系列LCR測試 ...

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