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發(fā)布時(shí)間: 2023-10-7 16:08
正文摘要:每種芯片在設(shè)計(jì)階段都會(huì)對(duì)一些核心指標(biāo)參數(shù)進(jìn)行提前的計(jì)算規(guī)劃，而在芯片生產(chǎn)之后，也會(huì)對(duì)這些核心參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，兩組數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比以便了解生產(chǎn)的芯片指標(biāo)參數(shù)是否在當(dāng)初設(shè)計(jì)時(shí)的規(guī)定范圍之內(nèi)，從而整體把控芯片 ... |
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