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標(biāo)題: 0代碼開發(fā)平臺ATECLOUD為用戶自動(dòng)化測試帶來新體驗(yàn) [打印本頁]

作者: namisoft 時(shí)間: 2024-7-26 15:33
標(biāo)題: 0代碼開發(fā)平臺ATECLOUD為用戶自動(dòng)化測試帶來新體驗(yàn)
　　在自動(dòng)化浪潮的推動(dòng)下，電測行業(yè)正經(jīng)歷著一場技術(shù)革新。納米軟件推出了ATECLOUD智能測試平臺，以其0代碼開發(fā)的特點(diǎn)，推動(dòng)了電測行業(yè)的發(fā)展。

　　ATECLOUD智能測試平臺
　　納米軟件在電測行業(yè)深耕16年，始終以客戶為中心，在多年項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn)累積下開發(fā)出ATECLOUD測試平臺，為混合集成電路測試提供軟硬件一體化解決方案，打破傳統(tǒng)測試系統(tǒng)信息零散、數(shù)據(jù)孤島、無法靈活變更的限制，真正做到任何時(shí)間、任何地點(diǎn)都可以完成自動(dòng)化測試，為電測行業(yè)的發(fā)展貢獻(xiàn)一份力量。
　　目前，ATECLOUD專注于為電源模塊、電源管理芯片和射頻組件測試提供自動(dòng)化測試方案。同時(shí)，也支持定制開發(fā)，如電機(jī)驅(qū)動(dòng)測試、元器件測試等，滿足客戶多樣化的測試需求。

　　0代碼開發(fā)平臺：便捷、高效
　　區(qū)別于傳統(tǒng)測試系統(tǒng)，ATECLOUD的特點(diǎn)之一就是0代碼開發(fā)。顧名思義，在使用過程中，用戶無需編寫復(fù)雜代碼，只需通過拖、拉、拽、點(diǎn)擊等基礎(chǔ)電腦操作便可快速完成被測產(chǎn)品的測試、數(shù)據(jù)分析、報(bào)告導(dǎo)出等測試流程，讓測試變的更加簡單、便捷。

拖拽式項(xiàng)目搭建，便捷迅速

　　傳統(tǒng)測試系統(tǒng)對人員的專業(yè)度要求高，不僅要了解業(yè)務(wù)流程，還需要熟練代碼編寫，這無疑增加了企業(yè)成本，而且可能需要長時(shí)間來搭建測試項(xiàng)目，降低測試效率。
　　ATECLOUD采取無代碼模式，建立儀器標(biāo)準(zhǔn)指令以及各種節(jié)點(diǎn)，用戶只需拖拽儀器指令以及相應(yīng)節(jié)點(diǎn)，15分鐘即可迅速搭建測試項(xiàng)目。這種方式不僅操作簡單，而且對人員要求低，只需了解業(yè)務(wù)流程即可。

方便系統(tǒng)維護(hù)，快速查找問題

　　如果在系統(tǒng)使用中遇到問題，代碼開發(fā)的測試系統(tǒng)可能難以快速定位問題;尤其是遇到人員變動(dòng)的情況，由于對之前的代碼不了解，系統(tǒng)維護(hù)更是難上加難，從而影響測試效率和生產(chǎn)進(jìn)度。
　　ATECLOUD平臺支持測試項(xiàng)目流程圖的可視化，業(yè)務(wù)流程以及測試參數(shù)都可追溯，因此可以迅速發(fā)現(xiàn)問題，判斷測試流程是否有誤，參數(shù)、閾值設(shè)置等是否有問題，從而提高解決問題的效率。

靈活調(diào)整，滿足測試需求

　　隨著技術(shù)的發(fā)展與產(chǎn)品的升級迭代，在測試項(xiàng)目或者業(yè)務(wù)流程發(fā)生變化時(shí)，代碼開發(fā)的測試系統(tǒng)需要通過復(fù)雜編程來調(diào)整，甚至一些特定需求可能無法通過代碼實(shí)現(xiàn)，需要額外開發(fā)系統(tǒng)，無法靈活適應(yīng)產(chǎn)品的變更。
　　而在ATECLOUD平臺中，簡單拖拽點(diǎn)擊便可快速新增測試項(xiàng)目，無需代碼。測試項(xiàng)目工步搭建會對用戶開放，可以隨時(shí)修改閾值、參數(shù)、流程等，靈活調(diào)整項(xiàng)目。

　　總之，0代碼開發(fā)模式為ATECLOUD的使用帶來了便利，同時(shí)也為用戶提供了便捷高效的服務(wù)，提高了測試工作的效率，為企業(yè)自動(dòng)化測試轉(zhuǎn)型賦能。平臺更多詳情可直接訪問：https://www.namisoft.com/Atecloud.html

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