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標題: 集成電路檢測方法 [打印本頁]
作者: ywwork2011    時間: 2011-2-23 12:28
標題: 集成電路檢測方法
各位長老想問問集成電路的檢測方法！！！
還望賜教
作者: rieman    時間: 2011-2-24 11:35
這個問題好大！先上網搜索一下常規芯片（如74系列）的檢測方法再說吧。至于模擬芯片、MCU等，那方法可是千差萬別的呀！
作者: ywwork2011    時間: 2011-2-24 12:48
單片機芯片：如ATMEGA系列，51系列
作者: lianwazi    時間: 2011-2-26 19:43
也太大了吧！！！
作者: leefy    時間: 2011-3-22 15:05
范圍太寬了。針對一種架構就是一套方案，51系列說是一種指令集，可是有12T，6T，3T，2T，1T的，架構已經不一樣了，反應時序不同。
另外，目標是什么？已知芯片測好壞？還是未知芯片測型號？
其實，測試單片芯片，就是黑匣子測試，看是否符合某個標準模式。
作者: liying07852    時間: 2011-3-24 08:59
我想大多數的芯片的正確與否都是根據是否能執行正確的邏輯來定義的，檢測恐怕也是要依據這個。



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