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電子工程網(wǎng)
標(biāo)題:
簡(jiǎn)單判斷iC好壞1
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作者:
zhangjunweiw
時(shí)間:
2011-2-14 15:27
標(biāo)題:
簡(jiǎn)單判斷iC好壞1
一、不在路檢測(cè)
這種方法是在ic未焊入電路時(shí)進(jìn)行的,一般情況下可用萬用表測(cè)量各引腳對(duì)應(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻值,并和完好的ic進(jìn)行 較。
作者:
wongfu72
時(shí)間:
2011-2-15 21:50
麻煩,如果只有一塊IC呢?
作者:
ljc424
時(shí)間:
2011-2-16 13:27
刷下分
作者:
ywwork2011
時(shí)間:
2011-2-26 19:25
不夠?qū)嵱茫。。?hr noshade size="2" width="100%" color="#808080">
作者:
514433999
時(shí)間:
2014-5-11 21:30
無聊的玩意
作者:
Benjoy
時(shí)間:
2014-5-12 01:24
不太懂,向大家學(xué)習(xí)!
作者:
ming_10
時(shí)間:
2014-5-30 13:42
作者:
zyr_1215
時(shí)間:
2014-5-30 14:56
太簡(jiǎn)單了。
作者:
joywyc
時(shí)間:
2014-6-4 20:19
這是一種按黑匣子法和比較法的測(cè)試,只能判斷IC大的損壞或缺陷,不能判別諸如靜電損傷一類隱形故障。
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